빛으로 데이터를 저장하는 광학칩 개발

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IT News
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빛을 이용해 폰 노이만 병목(Von-Neumann Bottleneck) 현상을 해결할 수 있는 길이 열렸다. 초고속 컴퓨터의 설계에 있어 결정적인 취약점이라고 일컬어지는 폰 노이만 병목현상은 컴퓨터 CPU와 하드 드라이브나 SSD와 같은 대량 저장 기기 간의 시스템 버스에서 만들어지는 I/O 병목현상 또는 기억장소의 지연 현상을 말한다. 최근 옥스포드 대학 재료학과, 뮌스테르 대학, 칼스로헤 기술

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